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存储器器件、以及制造存储器单元的方法

发明专利有效
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

邱于建; 吕文琳; 郑雅云; 刘逸青; 王奕; 吴志强; 李婕

IPC 分类

H10B 12/00 (2023.01)

一种存储器器件包括沟道层。存储器器件包括栅极结构,位于沟道层第一侧上,其中,栅极结构具有面向沟道层的顶面。存储器器件包括漏极结构,位于沟道层的与第一侧相对的第二侧上,其中,漏极结构具有面向沟道层的第一底面。存储器器件包括源极结构,位于沟道层的第二侧上,并且沿着横向方向与漏极结构相邻,其中,源极结构具有面向沟道层的第二底面。存储器器件包括从沟道层凸出的第一沟道基座和第二沟道基座。本申请实施例还涉及一种制造存储器单元的方法。