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半导体器件及其制造方法

发明专利有效
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

金桑贤; 黄仁俊

IPC 分类

H10D 30/47 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)H10W 20/20 (2026.01)

提供了半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:沟道层;设置在沟道层上的阻挡层;设置在阻挡层上的栅电极;源电极和漏电极,连接到沟道层并且在栅电极的相应侧上;下场分布图案,在栅电极和漏电极之间彼此间隔开;以及上场分布图案,在下场分布图案上与下场分布图案间隔开,并且连接到源电极。