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半导体器件及其制造方法
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
林俊言; 彭士玮; 曾威程; 林威呈; 曾健庭
IPC 分类
H10D 84/85 (2025.01)H10D 84/01 (2025.01)
本申请的实施例公开了一种半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:多个第一栅极结构,沿第一方向布置并在第二方向上延伸,多个第一栅结构中的至少一个第一栅极结构对应于第一晶体管区;多个第二栅极结构,沿第一方向布置,并在第二方向上与第一栅极结构中的第一栅极结构对齐,多个第二栅极结构中的至少一个第二栅结构对应于第二晶体管区;绝缘结构,在第二方向上延伸并将多个第一栅极结构与多个第二栅极结构分离;以及第一导电通孔,位于绝缘结构中,配置为承载用于第一晶体管区的信号。