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半导体结构及其制造方法
发明专利有效
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20权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
林育漳; 林孟汉
IPC 分类
H10D 86/60 (2025.01)H10D 86/01 (2026.01)
本发明公开一种半导体结构及其制造方法,其中半导体结构包括基底、第一晶体管与第一金属栅极。基底具有彼此相对的正面与背面。第一晶体管位于正面上。第一晶体管包括第一通道区。第一金属栅极位于背面上,且对准第一通道区。
发明人
林育漳; 林孟汉
IPC 分类
本发明公开一种半导体结构及其制造方法,其中半导体结构包括基底、第一晶体管与第一金属栅极。基底具有彼此相对的正面与背面。第一晶体管位于正面上。第一晶体管包括第一通道区。第一金属栅极位于背面上,且对准第一通道区。