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一种复合衬底及其制备方法
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
高秀秀
IPC 分类
H10P 14/24 (2026.01)H10P 30/20 (2026.01)H10P 95/90 (2026.01)
本申请涉及半导体技术领域,提供了一种复合衬底及其制备方法。复合衬底包括4H‑SiC基板,4H‑SiC基板的碳面形成有第一热氧化层。3C‑SiC基板,3C‑SiC基板的表面形成有第二热氧化层。第一热氧化层与第二热氧化层融合形成键合层,以使4H‑SiC基板与3C‑SiC基板键合。并且,键合层用于引发缺陷辅助隧穿。本申请提供的复合衬底可以解决现有技术中3C‑SiC衬底与4H‑SiC衬底直接键合导致界面电阻高的问题。