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制造半导体结构的方法
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
邱旦杰; 刘晋昇; 连振浩
IPC 分类
H10P 50/26 (2026.01)H10P 50/66 (2026.01)H10P 14/40 (2026.01)
本发明提供一种制造半导体结构的方法,此方法包括以下操作。在基板上形成导电结构。形成钨层以覆盖基板与导电结构。在钨层上形成硬遮罩叠层。图案化硬遮罩叠层。通过硬遮罩叠层蚀刻钨层。移除硬遮罩叠层。在钨层上形成硬遮罩叠层包括以下操作。在钨层上形成碳基层。对碳基层注入碳,使碳基层具有‑0.5 GPa至‑5 GPa的应力。在碳基层上形成硅层。在硅层上形成氧化层。本发明的方法可解决碳基层及其相邻层之间的剥离问题。