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半导体工艺控制方法及控制装置

发明专利有效
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

孟超; 杨涛; 娄培阳; 林晓涵

IPC 分类

H10P 72/00 (2026.01)

本发明提供了一种半导体工艺控制方法及控制装置,在一个工艺周期内,反应物分成多次通入流通器件进行反应,并在每次反应后自所述流通器件输出,其中,相邻两次所述反应之间所述流通器件处于间歇状态,由此可以减少所述流通器件每次的间歇时间,从而能够避免反应物在流通器件内累积,避免了反应物滞留而堵塞流通器件的问题。