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PZT晶圆用检测设备
发明专利有效
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10权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
夏玉龙; 夏菁
IPC 分类
H10P 74/00 (2026.01)H10P 72/30 (2026.01)H10P 72/76 (2026.01)H10P 72/78 (2026.01)
本申请公开了一种PZT晶圆用检测设备,涉及PZT晶圆检测的技术领域。一种PZT晶圆用检测设备,包括机架,所述机架上设有用于进行晶圆上下料的上下料装置、用于移动晶圆的移料装置、用于夹持晶圆的夹料装置和用于对晶圆进行检测的检测装置;所述检测装置包括设于机架上的调位机构,所述调位机构连接有给动机构,所述给动机构连接有检测件,所述调位机构能够带动检测件移动至晶圆的中心一侧,所述给动机构能够带动检测件以螺旋轨迹运动。本申请能够以螺旋型的检测轨迹对晶圆进行检测。