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用于控制和评估插接连接质量的方法和装置
发明专利有效
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19权利要求 · 14 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
托马斯·维尔福尔斯; 安妮·沃尔克尔; 奥特弗里德·施瓦茨科普夫
IPC 分类
H01R 43/26 (2006.01)H01R 13/641 (2006.01)
在用于控制和评估插接连接器的插接连接质量的方法中,其中对第一信号进行采集和评估,由第一信号采集装置(12)连续地采集第一信号(S)和由至少一个第二信号采集装置(17,114,115)连续地采集至少一个第二信号(S,S),并在至少一个记录装置(14)中进行记录,至少一个触发信号(S)触发测量窗口(20)的开启,并通过至少一个评估单元(15)检查测量窗口(20)内是否存在至少两个表征正常插接过程的特征信号(S,S,S),其中至少一个触发信号(S)在时间上位于测量窗口(20)之前、测量窗口(20)内部或在时间上位于测量窗口(20)之后。