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一种用于精密射流元件高压测试的机构和方法
发明专利未知
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
程盛; 况晨曦; 杜思哲; 曹智锋; 谢志刚; 杨强强; 陈勃旭
申请日
Apr 3, 2025
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
F15B 19/00 (2006.01)F15B 13/02 (2006.01)
本发明公开了一种用于精密射流元件高压测试的机构和方法。其中,该装置包括:多路测试块、上盖板、下盖板、上、下压紧定位块、龙门架、螺杆、试验台架、压力传感器、流量传感器等。其中,多路测试块用于转接进、回油油路,为射流元件提供油压;上盖板保证精密射流元件能够与多路测试块之间实现密封的同时,保证射流元件的进回油油路与多路测试块沟通;试验台架包含压力传感器,用于测试射流元件输入、输出压力及流量;龙门架用于上盖板,保证油路密封效果。本发明实施例可以在精密射流元件装配使用前,实现独立高压性能测试,确保后续装配的元件均为合格零件,提高了产品整体性能,同时避免元件性能不合格导致的反复拆装过程。