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一种结构平台下沉值的测量装置及方法
发明专利未知
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9权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
吴事兵; 姚绍恒; 石亮华; 高源林; 胡晟航
申请日
Aug 19, 2026
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
G01C 5/00 (2006.01)
本发明提供一种结构平台下沉值的测量装置及方法,包括测量型架、靶标测量块、靶标测量块、靶标测量块和TB块,其中:测量型架为框架结构,用于固定靶标测量块、靶标测量块、靶标测量块和TB块,靶标测量块、靶标测量块和靶标测量块零件上都有测量孔位,靶标测量块和靶标测量块有一个测量孔位,靶标测量块有两个测量孔位,便于激光跟踪仪在被测对象左右两边测量,上述四个测量孔位高度Z坐标一致,任意三个测量孔位形成一个面;测量型架上固定了四个TB块,便于激光跟踪仪在被测对象左右两边测量,用于建立坐标系,该坐标系与被测对象数模的坐标系一致,四个测量孔位与四个TB块的坐标系一致。