测量方法、电子设备、存储介质、程序产品及测量装置

本公开涉及一种测量方法、电子设备、存储介质、程序产品及测量装置，测量方法包括：对被测对象的推力进行测量，其中，所述测量满足以下至少一种条件：所述被测对象与推力感应器之间的初始距离为第一距离值，所述推力感应器用于测量所述被测对象施加给所述推力感应器的推力值；所述被测对象与所述推力感应器之间的初始距离以第一移动速度减小。本公开提供的测量方法能够提升被测对象的推力的测量精度。