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一种测量全尺寸O型圈气密性能的方法和装置
发明专利未知
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
王雅熙; 李科; 李天雷; 肖杰; 林元华; 姜放; 曹晓燕; 李林辉; 张仁勇; 张金钟; 廖芸
申请日
Apr 1, 2025
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
G01M 3/02 (2006.01)G01N 33/00 (2006.01)
本发明公开了本发明方提出一种测量全尺寸O型圈气密性能的方法和装置,包括底部组件、测试罐和盖板;所述底部组件中设置有密封罩;所述测试罐设置在密封罩中,所述盖板设置在底部组件的端部,并对密封罩进行密封,所述测试罐上设置有多个用于对不同型号O型圈进行固定的测试凹槽;所述底部组件上还设置与测试腔配合的进气部和出气部;本发明在外加压缩载荷条件下,实现对O型圈气密性能的测量。待测O型圈放置在测试凹槽上利用盖板对待测O型圈进行加压,通过控制每根螺栓的应变,对待测O型圈进行均匀加压,从而实现一定压力下O型圈气密性的测量。
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