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一种C透镜的检测方法及检测装置
发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
金永红; 张嘉豪; 何剑炜; 张占军; 廖广毅
申请日
Aug 14, 2026
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
G01M 11/02 (2006.01)G01M 11/04 (2006.01)
本发明提供一种C透镜的检测方法及检测装置,C透镜的检测方法包括:确定激光入射点与所述C透镜的斜面上反射点之间的光程L、被所述斜面反射的光斑在探测器的位置相对于所述激光入射点的偏移量Δ;根据所述光程L和所述偏移量Δ,计算得到所述斜面的斜面角度α;其中,所述斜面角度α为所述斜面与垂直于所述C透镜的中心轴的截面之间的夹角。本发明实施例提供的C透镜的检测方法,提高C透镜的检测精度。