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一种柜门重复开合测试装置

发明专利未知
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8权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

戴佩刚; 朱祥; 韩玉翠; 张小敏; 帅应红

申请日

Sep 9, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01M 13/00 (2019.01)G01D 21/02 (2006.01)

本发明属于柜门测试技术领域,具体的说是一种柜门重复开合测试装置,包括型材支架、执行模块、测试传感器和智能控制模块,所述型材支架上竖直设置有移动滑轨,测试平台通过移动滑块与移动滑轨相连,所述执行模块部署到测试平台上,所述测试传感器包括计数传感器和接触传感器;本申请通过自动化的柜门开合测试,节省人力的同时,可以保持柜门开合时施展的力矩和受力位置均匀,从而获取用以评估待测柜体柜门使用寿命的有效数据,减少因为人工操作失误所造成的不良干扰,提高评估得到的寿命数据的准确程度。