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一种激光切割承载胶带扩膜后存放性能检测方法

发明专利未知
10权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

孙攀; 张霄

申请日

Sep 14, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01N 3/32 (2006.01)G01N 19/04 (2006.01)G01N 3/08 (2006.01)G01N 1/28 (2006.01)

本发明涉及胶带检测技术领域,尤其涉及一种激光切割承载胶带扩膜后存放性能检测方法,该方法包括:将同一批次的待测承载胶带进行分离处理,以获得待测基膜和待测胶体;随机抽取待测基膜和待测胶体进行分离合格性测试,获取残留剥离力值和结构刚度值,并确定分离处理是否合格;响应于分离处理合格,将待测基膜进行预处理获得待测基膜样品,并基于相似度确定预处理是否达标;响应于预处理达标,对待测基膜样品进行应力松弛测试确定应力平均值,并将待测胶体进行蠕变测试确定应变平均值,以确定承载胶带的存放性能是否达标,并输出存放性能检测结果。本发明提高了承载胶带扩膜后存放性能检测的准确性。

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