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一种重叠颗粒物的统计方法及装置
发明专利未知
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
吴付祥; 张强; 李岳; 陈建阁; 惠立锋; 焦敏; 邓勤; 李征真; 罗义舜; 罗小博; 张湧; 陈颖兴; 陈涛; 李彦筑
申请日
Aug 11, 2026
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
G01N 15/0227 (2024.01)G01N 15/075 (2024.01)
本申请公开了一种重叠颗粒物的统计方法及装置,该方法包括,获取待测颗粒物经过光学检测区域产生的光信号,确定光信号的采样点的实际分布向量,然后基于参考分布矩阵和实际分布向量,确定不同粒径的颗粒的数量,其中的实际分布向量用于表征采样点在不同幅值区间的分布,参考分布矩阵表征不同粒径的参考颗粒物单独产生的参考采样点在不同幅值区间的分布。由于不需要对重叠脉冲进行逐个识别与分割,而是从统计分布层面实现重叠颗粒物与非重叠颗粒物的统一计数,因此本申请提供的方法能够有效规避脉冲重叠导致的幅值失真与漏计问题,显著提升颗粒物粒径分布统计的准确性与鲁棒性。
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