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具有仓顶反射功能的料仓物料测量系统及方法

发明专利未知
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10权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

呼秀山

申请日

Sep 3, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01N 21/17 (2006.01)G01N 29/04 (2006.01)G01N 29/44 (2006.01)

本公开提供了一种具有仓顶反射功能的料仓物料测量系统及方法,属于仓储物料测量技术领域。系统包括部署于料仓内部的三维扫描装置和与其连接的控制模块;三维扫描装置用于向料仓顶部内壁发射测量信号,测量信号经料仓顶部内壁反射后向下发射至物料表面,由物料表面反射后的测量信号再经料仓顶部内壁反射后由三维扫描装置进行接收;控制模块用于控制三维扫描装置的测量信号发射与接收,并对经料仓顶部内壁与物料表面反射后的回波信号进行分析处理,以获取料仓内物料三维特征信息。本公开采用仓顶、物料表面二次反射的信号采集路径,有效解决料仓物料盲区测量问题,提高了测量精度与覆盖范围。