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一种低地球轨道空间环境综合试验装置与方法
发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
章俞之; 马佳玉; 王枫; 谷红宇; 吴岭南; 宋力昕
申请日
Aug 19, 2026
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
G01N 23/04 (2018.01)G01B 21/20 (2006.01)
本申请涉及材料空间环境模拟试验的技术领域,并提供了一种低地球轨道空间环境综合试验装置与方法。本申请的低地球轨道空间环境综合试验装置包括辐照室、测试室以及控制与采集系统。本申请能够通过多类辐照源在腔体中心交汇束流,搭配可转运样品的双腔真空结构,实现低地球轨道多种空间环境因素同步开展材料辐照试验,还可在辐照过程中转移样品完成表面形貌测量,记录材料表面损伤变化的发明目的。除此之外,本申请还提供了一种应用于低地球轨道空间环境综合试验装置的方法。