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一种天线罩平面近场法向单元相位一致性测试方法及系统

发明专利未知
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8权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

张浩; 张成金

申请日

Jul 29, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01R 25/00 (2006.01)G01R 29/08 (2006.01)G01R 29/10 (2006.01)G01R 29/00 (2006.01)G01S 7/40 (2006.01)G01S 7/02 (2006.01)

本发明提供一种天线罩平面近场法向单元相位一致性测试方法及系统,选取综合功能孔径天线罩的任一水平极化端口和任一垂直极化端口作为基准单元,选择其余水平极化端口和其余垂直极化端口作为待测端口,采集水平极化基准单元位置、垂直极化基准单元位置的平面近场相位方向图;采集所有水平极化待测端口位置、垂直极化待测端口位置的平面近场相位方向图。可以实现宽频带综合功能孔径天线罩的近‑远场法向单元相位一致性的表征,可用于实现蒙皮罩介质局部厚度处理的相位一致性快速响应分析,提高产品的相位一致性的性能。