CNIPA.AI
返回搜索
档案

一种TDR单线程状态机并行测试方法和装置

发明专利未知
11浏览
10权利要求 · 5 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

朱智宁; 刘小生; 戴亮

申请日

Jul 3, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01R 31/00 (2006.01)G06F 9/38 (2018.01)G06F 9/448 (2018.01)

本公开涉及TDR测试技术领域,具体涉及一种TDR单线程状态机并行测试方法和装置,将待测区域划分为分别对应第一测试臂和第二测试臂的两个测试子区域,并根据各自待测点集规划相应的测试路径,使两测试臂的测试路径在大部分测试位置处呈同向运动的随动关系,实现双测试臂之间碰撞概率的有效降低,保障了双测试臂在同一测试区域内安全地协同并行作业。通过为双测试臂各自配置有限状态机,并将各自的测点测试流程拆分为多个离散状态,按照各自的测试路径在单线程中循环轮询双测试臂的当前状态,在双测试臂之间切换执行状态流转,实现了双测试臂在单线程中协同并行推进各自的测点测试流程,充分复用双测试臂的测试资源,缩短了测试总耗时。