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一种热电子发射电流测量方法、装置及设备

发明专利未知
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10权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

金华; 张劭捷; 贺智旭; 李滔; 武晓婷

申请日

Aug 5, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01R 31/26 (2020.01)

本发明公开了一种热电子发射电流测量方法、装置及设备。涉及热电子发射预测技术领域,该方法包括:获取阴极材料的温度、电压及极间距离参数;判断当前是否处于高温、低电场工况;若是,则以递归迭代方式求解热电子发射电流密度;若否,则采用热电子发射模型直接计算。在递归迭代求解时,每次迭代根据上一次迭代的电流密度动态更新用于计算电流的模型参数,并基于更新后的模型参数计算本次的电流密度,重复该过程直至满足预设收敛条件,最终输出收敛后的电流密度。本申请通过建立闭环反馈机制,并综合考虑肖特基效应、表面粗糙度等多重物理因素,显著提高了电流密度预测的精度和物理合理性。