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用于校正阻抗测量的方法和系统
发明专利未知
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§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
G01R 35/00 (2006.01)G01R 27/08 (2006.01)
本公开涉及一种用于校正阻抗测量的方法和系统。一种系统(400，图4)包含：被测装置DUT(402A)，其封装在组合件中；电压测量电路(412A)，其耦合到所述DUT(402A)且可配置成获得表示所述DUT(402A)两端的电压的电压测量值；电流测量电路(422)，其耦合到所述DUT(402A)且可配置成获得表示通过所述DUT(402A)的电流的电流测量值；及处理电路(430)，其耦合到所述电压测量电路(412A)和所述电流测量电路(422)。所述处理电路(430)可配置成：接收所述电压测量值；接收所述电流测量值；及响应于所述电压测量值、所述电流测量值和特定于所述组合件的参数而计算所述DUT(402A)的阻抗谱。
§ Ⅵ
专利附图
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