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一种检验雷达基数据质量问题等级的方法及系统

发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

刘东; 苏斌

申请日

Sep 15, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G01S 7/40 (2006.01)G01S 7/41 (2006.01)G01S 13/95 (2006.01)G06F 18/22 (2023.01)G06F 18/2433 (2023.01)

本申请提供一种检验雷达基数据质量问题等级的方法及系统,涉及气象探测技术领域,其中,该方法包括:获取雷达待检数据;在有效探测范围内提取各扫描层回波强度;计算相邻距离库间强度差值并识别异常径向;将不同扫描层中方位角相同的异常径向空间组合以确定受损方位区间;统计连续异常径向数量并计算受损扇区宽度;基于受损扇区宽度和雷达观测模式确定质量问题等级;生成质量告警报告并下发至气象业务节点。本申请提升了雷达基数据质量评估的准确性。