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指令集粒度性能测试方法及系统

发明专利未知
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9权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

庄昕

申请日

Sep 14, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G06F 11/34 (2006.01)G06F 40/166 (2020.01)G06F 40/205 (2020.01)G06F 11/22 (2006.01)

本发明提供一种指令集粒度性能测试方法及系统,包括:根据计算单元架构获取主指标;对计算单元架构的原始性能数据进行自适应预热过滤和两级中位数滤波,形成JSON文件;对异构的JSON文件进行解析,执行所述主指标的映射和聚合。