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一种熔接痕深度检测与缺陷识别方法

发明专利未知
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9权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

沈文振; 骆东星; 李付凯; 林培森; 赖从杏

申请日

Jun 11, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G06T 7/00 (2017.01)G06N 3/0464 (2023.01)G06T 7/50 (2017.01)G06T 7/73 (2017.01)G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)

本发明公开了一种熔接痕深度检测与缺陷识别方法,包括以下步骤:S1、图像采集与预处理:通过视觉采集设备获取待检测产品的熔接痕及模穴号区域图像,对图像进行降噪、增强对比度等预处理,提升图像质量;S2、数据标注与数据集构建:对预处理后的图像进行人工标注,标注内容包括熔接痕深度、模穴号特征位置及缺陷类型,形成标准化数据集。本发明通过AI实现熔接痕深度高精度检测与缺陷识别,解决传统检测无法测深度、误判率高问题;显著降低缺陷漏检与误判,提升检测稳定性与效率,适配大批量生产;可自动分析缺陷规律并迭代优化模型,为工艺改进提供数据支撑,实现检测精准、高效、可扩展与可持续优化。