存储装置的测试方法、一体式测试设备

本申请公开了存储装置的测试方法、一体式测试设备。该方法包括：获取测试用例集；其中，测试用例集中包括不同类型的测试设备的多种测试用例；测试设备包括高低温测试设备和常温测试设备；利用测试用例集中的多种测试用例对存储装置进行测试，其中，测试类型包括版本测试、可靠性测试、环境应力测试、性能测试、掉电测试、读写测试和/或协议压力测试。通过上述方式，解决同一个测试设备测试单一所导致的一些潜在问题不容易被发现的问题。