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一种接触式原子力显微镜在恒高模式下测量的分子动力学建模方法

发明专利未知
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4权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

田欣昊; 王福军; 田延岭; 刘春凤

申请日

May 22, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

G16C 10/00 (2019.01)G01Q 60/24 (2010.01)G01Q 60/38 (2010.01)G01Q 10/00 (2010.01)G01Q 30/00 (2010.01)G01Q 20/00 (2010.01)G16C 60/00 (2019.01)

本发明涉及一种接触式原子力显微镜在恒高模式下测量的分子动力学建模方法,通过建立扫描过程的模型,通过对样品表面形貌的测量,探究不同扫描速度以及不同针尖形貌对于样品表面测量精度的影响,从微观角度揭示针尖样品间的作用力关系,并通过力的反馈来控制针尖的起伏。本发明为探究原子力显微镜微观下的作用力以及单参数对于测量精度的影响提供重要的理论支撑。