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调度离子用于分析的方法
发明专利未知
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
H·斯图尔特; A·马卡洛夫; M·W·森柯; M·V·尤佳洛夫; M·古德温
申请日
Apr 1, 2026
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
H01J 49/00 (2006.01)H01J 49/42 (2006.01)G01N 30/02 (2006.01)G01N 30/72 (2006.01)G01N 27/623 (2021.01)
本文提供一种在所关注的质荷比（m/z）范围内调度离子用于通过质量分析器进行分析的方法。所述方法包括获得跨所关注的质量范围的离子的预测强度和相关联m/z。所述方法还包括将离子输入至离子调度装置，根据所述离子的m/z或离子迁移率将所述离子从所述离子调度装置输出至所述质量分析器，以及基于所述离子的所述预测强度和相关联m/z来选择性地衰减所述离子。