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一种沟槽栅半超结SiC LIGBT结构
发明专利未知
10权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H10D 12/00 (2025.01)H10D 62/10 (2025.01)H10D 62/832 (2025.01)H10D 64/27 (2025.01)H10D 64/68 (2025.01)H10D 64/66 (2025.01)
本发明公开了一种沟槽栅半超结SiC LIGBT结构,包括P型衬底、锥形P‑pillar区、锥形N‑pillar区、N‑bottom区、P‑body区、N‑base区、电极与栅结构;P‑pillar区为锥形且凸出至N‑bottom区,与锥形N‑pillar区、N‑bottom区构成锥形超结;本发明通过锥形超结拓宽电荷不平衡裕度,凸出P柱增强界面电场、平衡电压分配以提升击穿电压,解决传统超结电荷不平衡裕度与击穿电压无法兼顾的问题;采用SiC与沟槽栅,适配高压高频场景,兼具宽裕度、高耐压与良好开关性能。