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一种高精密、高精益的芯片共晶设备及方法

发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

高娜

申请日

Jun 10, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

H10W 72/00 (2026.01)H10P 72/00 (2026.01)

本发明属于半导体制造技术领域,具体的说是一种高精密、高精益的芯片共晶设备及方法,包括贴装区域;所述贴装区域包括主邦头装置、第一副邦头装置、第二副邦头装置;所述基板上料装置位于设备右侧;第一副邦头装置承担基板上料和成品下料双功能,第二副邦头装置承担芯片上料和初定位供料功能,主邦头装置承担芯片精密贴装核心功能,通过采用精益极简的布局设计,基板上料装置、芯片上料装置、共晶区域、成品下料装置皆位于贴装区域一侧并次序排列,布局紧凑、简洁,设备整体架构布局和物流方案为两侧同步向中部汇聚,再由中部输出的精益极简方案,有利于保证设备精度、改善产品安全、方便人员操作、减小设备体积、降低设备成本。