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键合结构、键合结构的制备方法及半导体器件

发明专利未知
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15权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

王坤; 孙远

申请日

Jul 13, 2026

公开日

Oct 16, 2026

IPC 分类

H10W 80/00 (2026.01)H10P 10/00 (2026.01)H10W 72/00 (2026.01)

本申请涉及半导体器件技术领域,提供了一种键合结构、键合结构的制备方法及半导体器件,该键合结构包括衬底、阻挡层、过渡层、键合层和导电结构。其中衬底具有待键合件,阻挡层层叠设置于衬底,阻挡层远离衬底一侧的表面凹凸不平。过渡层随形层叠设置于阻挡层背离衬底的一侧,过渡层远离衬底一侧的表面凹凸不平。键合层随形层叠设置于过渡层背离衬底的一侧,键合层远离衬底一侧的表面各处齐平。导电结构贯穿设置于键合层、过渡层和阻挡层,并与待键合件电连接。该键合结构通过使阻挡层的表面凹凸不平,且过渡层和键合层依次随形层叠设置于阻挡层的一侧,以增大膜层之间的接触面积,从而增强界面结合力,防止膜层分层。