返回搜索
档案
用于分析样本材料的方法和系统
发明专利未知
18浏览
17权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
亚历山大·芬勒; 延斯·索尔特维奇; 亚历山大·波特霍夫; 扬·施文茨费尔; 克劳斯·德莱塞沃德
申请日
Mar 8, 2024
公开日
Oct 16, 2026
IPC 分类
H01J 49/00 (2006.01)H01J 49/16 (2006.01)G01N 21/64 (2006.01)
本发明涉及用于采集布置在样本载体上的样本材料的不同模态的空间分辨测量数据的方法和系统,特别是这些测量数据的部分同时采集,并且具体地简化和改善不同模态测量数据的共同配准,即它们在相同坐标系中的空间布置和定向。根据本公开的方法和系统可以有利地应用于成像离子谱法,例如,组织切片的成像飞行时间质量分析,特别是使用基质辅助电离,更特别是使用基质辅助激光解吸电离(matrix‑assisted laser desorption and ionization,MALDI)。