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一种激光诱导缺陷改性UiO-66-NH混合基质膜及其制备方法和应用

发明专利未知
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

顾振杰; 张旭; 王藤臻; 孙玉绣; 乔志华

申请日

Sep 16, 2026

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

B01D 67/00 (2006.01)B01D 71/76 (2006.01)B01D 69/02 (2006.01)B01D 53/22 (2006.01)

本发明涉及一种激光诱导缺陷改性UiO‑66‑NH混合基质膜及其制备方法和应用,属于气体分离膜技术领域。采用溶剂热法制备UiO‑66‑NH纳米颗粒;进行激光扫描处理,通过激光诱导其局部配位环境发生调控,获得激光改性UN‑RL60;加入PEI水溶液中制得铸膜液;涂覆于PDMS和PVA改性的聚砜支撑膜表面,干燥得到混合基质膜。本发明通过激光诱导缺陷工程调控UiO‑66‑NH的局部配位环境,形成未配位的锆活性位点,在保持其主体晶体结构和颗粒形貌的同时增强对CO和CH的吸附作用,改善填料与聚合物之间的界面相容性,减少非选择性界面缺陷,提高膜对CO/N和CH/N混合气体的分离性能。

§ Ⅵ

专利附图

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