基于激光校准的复合式抗干扰雷达物位测量方法及系统

本发明涉及物位检测技术领域，提出了基于激光校准的复合式抗干扰雷达物位测量方法及系统，所述方法包括：对环境参数进行空间畸变校正，得到激光校准基准数据，并对介质特性参数进行频谱分析，以得到雷达波频率调整基准；基于雷达波频率调整基准，对初始雷达发射信号进行频率调制，得到广域扫描雷达信号；基于激光校准基准数据，对广域扫描雷达信号进行波束指向修正，得到雷达回波信号；根据雷达回波信号，确定动态干扰抑制阈值；基于动态干扰抑制阈值，对雷达回波信号进行逻辑辨识与滤除处理，得到纯净物位回波序列；将纯净物位回波序列与激光校准基准数据进行波形特征拟合，以得到高精度物位距离；本发明可以提高抗干扰雷达物位测量的效率。