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一种超临界二氧化碳工质微量杂质取样失真标定校正方法

发明专利未知
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10权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

张根; 赵永福; 张欣; 戴为; 陶思远; 姜峨

申请日

Jul 20, 2026

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

G01N 1/02 (2006.01)G01N 1/22 (2006.01)G01N 33/00 (2006.01)

本发明公开了一种超临界二氧化碳工质微量杂质取样失真标定校正方法,涉及超临界二氧化碳微量杂质检测技术领域,主要针对超临界二氧化碳样品从系统回路取出至检测仪器入口之间的全过程,建立目标微量杂质在取样路径中的相态路径变化、溶解能力变化、分段损失、相间分配、内标回收、参比修正和质量闭合关系,并以表格化记录不同目标杂质、不同二氧化碳状态和不同取样路径条件下的回收率及校正参数,从而校正为系统回路原位状态下的原位浓度。本发明可提高不同取样点、不同运行工况和不同检测批次之间的数据可比性,为超临界二氧化碳能量转换系统的工质品质评价、杂质来源识别、净化控制、材料腐蚀风险判断和长期安全运行提供更可靠的数据基础。