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一种用于微塑料尺寸滞留分离检测的梯度微阵列多孔纳米银柱/疏水分子刷复合SERS基底及其制备方法和应用

发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

张永军; 代莹莹; 赵晓宇; 高稔现; 温嘉红; 张坤; 王雅新

申请日

Aug 17, 2026

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

G01N 21/65 (2006.01)G01N 21/01 (2006.01)

本发明提供一种用于微塑料尺寸滞留分离检测的梯度微阵列多孔纳米银柱/疏水分子刷复合SERS基底及其制备方法和应用。该基底包括高导电硅片衬底、沿待测液流动方向依次设置的10μm、5μm和2μm间距多孔纳米银柱区域,以及其表面的聚二甲基硅氧烷类疏水分子刷修饰层;银柱直径为4μm,由AgONO前驱体经硼氢化钠还原形成。梯度间距使不同粒径微塑料产生差异化减速、滞留和富集,多孔银提供SERS热点,疏水修饰层用于调节水性待测液的界面润湿行为并基本保持柱间开放流动空间,可用于7μm PS与3μm PET混合体系的分区识别检测。