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晶体取向识别方法、系统和应用

发明专利未知
12权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

刘金云; 李润伟; 尚杰; 高志一; 边宝茹; 刘宜伟

申请日

Jun 9, 2026

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

G01N 27/04 (2006.01)G01N 25/02 (2006.01)

本发明属于材料物性表征与晶体材料取向识别技术领域,公开了晶体取向识别方法、系统和应用,所述方法是以相变前后的电阻或电阻率的变化特征作为电学指纹,判断待测样品的取向。本发明可以实现对晶体取向的快速判定。

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