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石窟寺劣化岩样介电参数柔性低扰动重复测试装置及方法
发明专利未知
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10权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
杜志刚; 刘永亮; 丁梧秀; 高富强; 陈建平; 闫永艳; 马朝龙; 张拦; 陈天翔; 黄叶宁; 赵建建; 王玉豪; 杨哲
申请日
Sep 16, 2026
公开日
Oct 20, 2026
IPC 分类
G01R 27/26 (2006.01)G01R 1/04 (2006.01)G01N 3/06 (2006.01)G01N 3/08 (2006.01)G01N 3/02 (2006.01)
本发明涉及石窟寺劣化岩样介电参数柔性低扰动重复测试装置及方法,属于岩石电参数测量领域,该装置包括双端柔性夹具和LCR测试设备,双端柔性夹具包括具有加载螺杆的框架式绝缘支撑结构、上端弹性压紧组件和下端弹性支撑组件,在加载螺杆作用下为待测岩样提供低扰动的柔性加载和支撑;固定外环开设带有刻度标记的观察孔,配合刻度标记的指针伸入观察孔与上端弹性压紧组件滑动连接;上、下导电接触组件分别和待测岩样上、下端电接触,并通过测试导线连接LCR测试设备,形成待测岩样介电参数测量回路。本发明能够为同一岩样不同劣化阶段介电响应的连续比较提供较为一致的机械、电接触及电学测试条件,为石窟寺文化遗产监测提供技术支持。
§ Ⅵ
专利附图
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