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测试电路及包含其的电子装置以及测试方法

发明专利未知
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28权利要求 · 4 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

刘利子; 苏涛; 王广旭; 郑福

申请日

Apr 14, 2025

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

G01R 31/28 (2006.01)G01R 31/30 (2006.01)G01R 31/26 (2020.01)

本申请涉及测试电路及包含其的电子装置以及测试方法。一种测试电路包括:第一电路,其包括:多个测试输入端子,其可配置以接收多个比较器测试信号,其中每个比较器测试信号与相应测试比较器的阈值电压相关联;以及测试输出端子,其中所述第一电路可配置以响应于所述多个比较器测试信号而在所述测试输出端子处生成总组合测试信号。