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元器件可靠性评估方法、装置、设备、存储介质和程序产品
发明专利未知
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10权利要求 · 5 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
申请人
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
发明人
李家辉; 侯旎璐; 袁光华; 黄文锋
申请日
May 6, 2026
公开日
Oct 20, 2026
IPC 分类
G06F 30/20 (2020.01)G06F 17/18 (2006.01)G06Q 10/20 (2023.01)G06Q 10/0639 (2023.01)G06Q 50/04 (2012.01)G06F 11/00 (2006.01)G06F 119/02 (2020.01)
本申请涉及一种元器件可靠性评估方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：确定历史批次下多个元器件的历史指标的历史统计学指标，并按照各历史批次的批次顺序，将所有历史批次下历史指标的历史统计学指标构成历史统计学指标序列，获取待预测批次下多个待预测元器件的量化指标，并确定待预测批次下多个待预测元器件的量化指标的统计学指标，按照批次顺序，基于统计学指标得到当前统计学指标序列，基于当前统计学指标序列和历史故障指标对应的历史统计学指标序列，通过预测模型得到待预测批次对应的故障率，根据故障率和预设故障率，确定待预测批次下的元器件可靠性评估结果。从而实现预测待预测批次下的元器件的可靠性。