工业结构件表面光学数据处理方法、电子设备及存储介质

本发明提供了一种工业结构件表面光学数据处理方法，包括：基于工业结构件表面至少一个光学检测数据源的检测数据进行融合，获取其点级特征向量；依据所述点级特征向量在风险评估模型中的异常风险评估值，进行去噪处理得到第一去噪检测数据；对第一去噪检测数据在谱域中的风险频带数据的谱域分量执行抑制处理，得到第二检测数据；基于第二检测数据和第二检测数据中检测点的异常风险评估值生成所述工业结构件置信度，并依据所述结构件置信度执行带权滤波采样，得到第三检测数据；依据第三检测数据进行局部响应场估计、缺陷区域配准和三维重建，得到所述结构件的重建数据，并提取重建数据中的结构件特征数据生成结构件缺陷分析结果。