一种基于强度响应特征筛选的探测平板坏点识别方法

本发明提供一种基于强度响应特征筛选的探测平板坏点识别方法，包括：连续采集多帧的暗场和亮场图像；计算每帧每个像素在不同曝光参数下的净强度；以变化的曝光参数为自变量，以净强度为因变量，拟合得到强度响应斜率；计算并整合得到二维的斜率特征矩阵；在指定尺寸的邻域窗口下，根据二维的斜率特征矩阵并基于三重判定条件，筛选得到坏点；三重判定条件包括极值判定条件、标准差阈值判定条件和均值比例阈值判定条件。本发明的方法通过提取像素强度响应斜率特征，根据包含强度响应斜率特征的多维度判定规则，实现坏点的精准、快速识别，能够识别灰度正常的响应异常坏点，兼顾识别精度、实时处理速度与设备通用性。