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基于蚀刻波形数据的进气调节方法、装置及蚀刻设备
发明专利未知
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§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H01J 37/32 (2006.01)H10P 72/00 (2026.01)H10P 50/20 (2026.01)
本发明涉及蚀刻控制技术领域,公开了一种基于蚀刻波形数据的进气调节方法、装置及蚀刻设备,该方法包括:在通过蚀刻设备对晶圆进行蚀刻的过程中,采集晶圆的每个监测区域的蚀刻反应特征光谱,并根据所有监测区域的蚀刻反应特征光谱,生成所有监测区域的蚀刻波形数据;根据所有监测区域的蚀刻波形数据,确定所有监测区域的蚀刻波形偏差率,以对蚀刻设备进行进气调节操作。可见,实施本发明能够通过各监测区域的蚀刻波形数据,确定各监测区域的蚀刻波形偏差率,以实现蚀刻设备的自适应进气调节过程,这样,提高了蚀刻设备的进气调节可靠性和精准性,从而有利于提高晶圆蚀刻均匀性。