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底栅顶接触二硫化钼场效应晶体管及其制备方法

发明专利未知
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

梁世博; 孙新祚; 王海超; 张垒国; 翟明龙

申请日

Jun 29, 2026

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

H10D 30/47 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)

本发明提供一种底栅顶接触二硫化钼场效应晶体管及其制备方法,属于半导体制造技术领域,晶体管包括:衬底;设置在衬底上的底栅电极;设置在底栅电极上的栅极绝缘层;其中,栅极绝缘层为由氧化铪层、氧化铝层以及氮化硼层堆叠形成的复合膜层;设置在栅极绝缘层上的二硫化钼沟道层;设置在二硫化钼沟道层上的源极和漏极。本发明解决了现有技术中底栅型二硫化钼器件存在的栅控能力弱、界面缺陷与磁滞效应突出以及集成性差的问题。