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半导体结构及其制造方法
发明专利未知
20权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H10D 30/68 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)H10D 64/01 (2025.01)
本揭露提供一种半导体结构。半导体结构包括基板、第一介电层、第二介电层、掺杂第二介电层和电容器。基板具有周边区域以及被周边区域包围的阵列区域。第一介电层位于基板上。第二介电层位于第一介电层上。掺杂第二介电层位于周边区域的第二介电层上,其中,掺杂第二介电层包含N型掺杂剂,并且第二介电层和掺杂第二介电层均包含氮。电容器位于阵列区域中,并且电容器穿过第二介电层和第一介电层。此外,通过本揭露提供的半导体结构的制造方法,能够减少硬遮罩的沉积厚度,以降低电容器的纵横比,进而降低蚀刻工艺的难度。
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