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常开型晶体管及其制备方法
发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
赵亮亮; 李勇; 孙伟; 张一凡
申请日
Sep 9, 2026
公开日
Oct 20, 2026
IPC 分类
H10D 30/83 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)
本申请实施例涉及一种常开型晶体管及其制备方法,其中,常开型晶体管包括:衬底,具有第一导电类型;位于衬底内的第一漂移区、源极区和漏极区,第一漂移区的位于源极区和漏极区之间的部分用于形成沟道,第一漂移区、源极区和漏极区均具有不同于第一导电类型的第二导电类型;栅极结构,位于源极区和漏极区之间,用于控制沟道的导通与关断;第二漂移区,位于第一漂移区内且与源极区的距离小于与漏极区的距离,第二漂移区具有第二导电类型,第二漂移区的离子掺杂浓度大于第一漂移区的离子掺杂浓度。如此,在维持较高的击穿电压的同时,保障在实际应用中,当漏极端电压升高时,源极端的电压变化较小,从而保障电路功能的正常实现。