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超结功率器件晶圆边缘处理方法及晶圆结构
发明专利未知
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6权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
高云飞; 张继亮; 姚振海; 芮晨康; 张忠峰; 李尚军
申请日
Jun 1, 2026
公开日
Oct 20, 2026
IPC 分类
H10P 90/00 (2026.01)H10W 20/42 (2026.01)H10W 20/44 (2026.01)H10W 42/00 (2026.01)H10P 72/00 (2026.01)
本发明公开了一种超结功率器件晶圆边缘处理方法,应用于超结功率器件扩铂,包括:执行接触孔光刻工序,对晶圆边缘执行不洗边处理,保留晶圆边缘氧化层;通过所述边缘氧化层隔离铂元素与裸露硅基底;依次进行铂沉积、铂退火、铂去除、ILD层沉积、金属沉积及金属刻蚀。本发明能解决现有超级结器件扩铂工艺中,晶圆边缘接触孔光刻洗边导致边缘氧化层缺失,铂元素在裸露硅浅表层富集,引发后续金属刻蚀腔体污染、刻蚀速率下降、终点时间漂移、工艺超差及设备停机的技术问题。本发明能保障刻蚀速率稳定、终点时间平稳、工艺参数不超差及设备连续作业。