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半导体封固成型用临时保护膜及其制造方法、带临时保护膜的引线框架、临时保护的封固成型体以及制造半导体封装件的方法

发明专利未知
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9权利要求 · 6 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

武笠真之介

申请日

Mar 12, 2025

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

H10W 74/00 (2026.01)H10W 74/01 (2026.01)

一种半导体封固成型用临时保护膜,其具备支撑膜及设置于支撑膜的单面或两面上的黏合层,在形成封固搭载于引线框架的芯片焊盘上的半导体元件的封固层的封固成型期间,用于临时保护引线框架的与半导体元件相反的一侧的面。黏合层包含热塑性树脂及分子量小于1000的化合物即低分子成分。低分子成分中的总氯含量为12.5质量%以上。