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一种化学机械抛光液
发明专利未知
11权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
C09G 1/02 (2006.01)
本发明公开了一种用于半导体材料平坦化的化学机械抛光组合物。该组合物包括:研磨颗粒,二氧化硅保护剂,pH调节剂和水。具有良好的稳定性,可对二氧化硅等材料进行化学机械抛光,快速实现平坦化,充分延长软抛光垫的使用寿命,并减少抛光过程中二氧化硅表面产生的缺陷。
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